日立手持式XRF光譜儀|X-MET系列手持X射線熒光分析儀

為什么選擇X-MET手持X射線熒光光譜儀

**性能

日立手持式XRF光譜儀|X-MET系列手持X射線熒光分析儀提供*好的輕元素 （鎂、鋁、硅、磷、硫、氯）分析，檢測限度低，且可每天提供準(zhǔn)確可靠結(jié)果。

通過靈活的基本參數(shù)法(FP)法進(jìn)行分析，從而測試多種材料；或若需結(jié)果可追溯和高度準(zhǔn)確，則使用實(shí)證校準(zhǔn)。

操作簡單

大觸摸屏和基于圖標(biāo)的用戶界面，使用戶只需要*少的培訓(xùn)便可開始操作。

符合人體工學(xué)

日立手持式XRF光譜儀|X-MET系列手持X射線熒光分析儀輕便（僅1.5公斤）、簡潔、平衡性好，可供長時(shí)間使用，而疲勞度*低。

堅(jiān)固耐用而擁有成本低

符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防塵的X-MET可供室內(nèi)外使用。

通過MIL-STD-810G**耐用標(biāo)準(zhǔn)測試。

其可選的防扎窗口膜可預(yù)防在粗糙表面上測量導(dǎo)致探測器損壞而出現(xiàn)的高昂維修費(fèi)用。

上等數(shù)據(jù)管理

完全靈活：可將多達(dá)100,000條結(jié)果保存在X-MET上，將報(bào)告輸出到U盤或個人計(jì)算機(jī)，或自動將X-MET數(shù)據(jù)存儲在LiveData云端。

日立手持式XRF光譜儀|X-MET系列手持X射線熒光分析儀應(yīng)用

▲手持式XRF光譜儀應(yīng)用于QA/QC

為預(yù)防潛在產(chǎn)品事故及其昂貴的后果，在不同生產(chǎn)階段中進(jìn)行質(zhì)量控制和質(zhì)量**至關(guān)重要。通過手持式X射線熒光(HHXRF)，您可以在進(jìn)料送達(dá)時(shí)進(jìn)行快速檢查，并且確認(rèn)從制造到送貨過程中使用了合格的合金材料。

為何選擇X-MET8000系列手持式合金分析儀來完成此任務(wù)？

X-MET提供：

★為快速和可靠金屬分析提供上等性能

★為準(zhǔn)確的合金 牌號鑒定提供多種和可定制的合金 牌號數(shù)據(jù)庫

★堅(jiān)固耐用而擁有成本低

★使用方便：用戶幾乎不需培訓(xùn)

★多樣化數(shù)據(jù)管理：將數(shù)據(jù)存儲到分析儀、創(chuàng)建測試報(bào)告或使用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)，隨時(shí)隨地管理您的數(shù)據(jù)。

▲手持式XRF光譜儀應(yīng)用于材料可靠性鑒定

材料可靠性鑒定(PMI)計(jì)劃使工廠操作員和維修員可測試安裝前后的關(guān)鍵流程組件，以**資產(chǎn)完整性，并預(yù)防潛在的災(zāi)難性故障。通過手持式X射線熒光分析儀(HHXRF)，您可以在幾秒內(nèi)在現(xiàn)場上確認(rèn)合金的牌號及其元素化學(xué)成分。您無需再依賴供應(yīng)商的認(rèn)證。

為何選擇 X-MET8000 手持式光譜儀進(jìn)行PMI檢查？

★為快速和可靠金屬分析提供上等性能

★為準(zhǔn)確的合金鑒定提供多種和可定制的等級數(shù)據(jù)庫。

★牢固耐用而擁有成本低

★使用方便：幾乎不需用戶培訓(xùn)

★以完成任務(wù)為主的設(shè)計(jì)：便于使用的上等人體工學(xué)，優(yōu)化的設(shè)計(jì)，以便檢測難以到達(dá)位置的材料（如彎曲處和角落）

★多樣化數(shù)據(jù)管理：可將結(jié)果保存在分析儀上、將定制報(bào)告輸出到U盤或個人計(jì)算機(jī)，或使用應(yīng)用程序或云服務(wù)存儲并分享您的數(shù)據(jù)。

▲手持式XRF光譜儀應(yīng)用于廢舊金屬回收

每年，*過4億噸廢金屬被處理。通過檢測對廢金屬進(jìn)行分類，從將混合廢料分類為低價(jià)值和高價(jià)值材料，到確定進(jìn)入熔體的廢料成分和產(chǎn)出質(zhì)量，金屬回收過程中的各個階段都可增加價(jià)值。我們的X-MET分析儀被用于在世界各地的廢金屬加工和回收市場，為金屬回收過程中的每個階段增添價(jià)值。

為什么選擇X-MET8000？

★通過精  確的合金 牌號鑒定和元素化學(xué)分析（包括分析雜質(zhì)和懲罰元素），*大限度地提高生產(chǎn)力和利潤

★檢測合金、廢催化轉(zhuǎn)換器和其他材料

★易于使用：在幾秒后即可開始測試；幾乎無需用戶培訓(xùn)

★堅(jiān)固耐用：IP54評級（密封防塵和防濺水），并通過MIL-STD 810G檢測，堅(jiān)固耐用

★擁有成本低：我們的可選防扎窗口在測量轉(zhuǎn)角和其他尖銳物體時(shí)保護(hù)分析儀的檢測器，避免昂貴的維修

★強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理：將數(shù)據(jù)存儲在分析儀、U盤，或用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)與同事和買家實(shí)時(shí)分享結(jié)果

▲手持式XRF光譜儀應(yīng)用于采礦

X-MET8000手持式XRF (HHXRF)分析儀在采礦的多個階段——從早期探索到現(xiàn)場關(guān)閉后的環(huán)境監(jiān)控——提供快速、現(xiàn)場的地球化學(xué)分析。這*大減少了對實(shí)驗(yàn)室分析的需求，加快了決策過程并降低了檢測成本。

為什么選擇X-MET8000 Expert Geo？

★**的性能：我們的革  命性BOOST?技術(shù)和大面積硅漂移探測器提供相當(dāng)于其他HHXRF型號10倍的靈敏度，提供測量探路儀或懲罰元件所需的低限探測范圍。

★快速分析：在幾秒鐘內(nèi)測量多達(dá)40個元素；快速完成測試程序。

★因牢固耐用而降低擁有成本，并使停工時(shí)間縮至*短。

★出色的穩(wěn)定性：無論天氣如何，您都可信賴結(jié)果。

★易于使用：幾乎不需要用戶培訓(xùn)。

★內(nèi)置GPS：將地理坐標(biāo)與測試結(jié)果相結(jié)合，實(shí)現(xiàn)上乘的站點(diǎn)映射。

★強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理功能：隨時(shí)隨地通過藍(lán)牙打印機(jī)打印結(jié)果，并將其附在樣本袋上，以避免混淆；將其導(dǎo)出到U盤，或使用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)隨時(shí)隨地實(shí)時(shí)管理結(jié)果。

▲手持式XRF光譜儀應(yīng)用于土壤重金屬檢測

土壤污染逐漸由工業(yè)流程（如采礦和制造）、農(nóng)業(yè)（使用肥料和殺蟲劑）或廢物處理（如錯誤地進(jìn)行垃圾填埋）等人類活動造成。

暴露在某些污染物中如鉛和鎘等元素對人體健康有害，許多**已經(jīng)制定了相關(guān)法規(guī)和方案，以識別污染區(qū)域并管理修復(fù)過程（補(bǔ)救）。

例如，作為美國廢物管理計(jì)劃的一部分，美國環(huán)保局引入了6200標(biāo)準(zhǔn)，通過現(xiàn)場便攜式/手持式X射線熒光(XRF)光譜法，確定土壤和沉積物中的關(guān)鍵元素。

操作者可以使用HHXRF，快速在現(xiàn)場篩選重金屬和其他污染物。這使他們能夠*大減少送到場外實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行分析的樣本數(shù)量，并降低了分析成本和完成測試程序所需的時(shí)間。通過孤立問題區(qū)域和在現(xiàn)場確定補(bǔ)救邊界，操作者可*大限度地減少土壤處理和處置成本。

為何選擇X-MET8000 Expert Geo？

★**的性能：利用我們革  命性的BOOST?技術(shù)和大面積硅漂移探測器，滿足當(dāng)今和未來的檢測要求。它們提供了相當(dāng)于其他HHXRF型號10倍的靈敏度，為測量土壤、污泥和沉積物中關(guān)鍵元素（例如美國EPA 6200方法RCRA和優(yōu)先元素）提供所需的低檢測限制

★快速分析：快速完成調(diào)查

★杰出的穩(wěn)定性：無論天氣如何，您都可以信賴結(jié)果。

★因牢固耐用而降低擁有成本，并使停工時(shí)間縮至*短

★易于使用：幾乎不需要用戶培訓(xùn)

★嵌入式GPS：將地理坐標(biāo)與測試結(jié)果相結(jié)合，實(shí)現(xiàn)上乘的站點(diǎn)映射。

★強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理功能：隨時(shí)隨地通過藍(lán)牙打印機(jī)打印結(jié)果，并將其附在樣本袋上，以避免混淆；將其導(dǎo)出到U盤，或使用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)隨時(shí)隨地實(shí)時(shí)管理結(jié)果

▲手持式XRF光譜儀應(yīng)用于合規(guī)性檢測

無論您是電子設(shè)備、兒童產(chǎn)品和其他消費(fèi)品的制造商、零售商或進(jìn)口商，您都將受到關(guān)于限制有害物質(zhì)(RoHS)以及其他指令（例如2008年CPSIA - 消費(fèi)者產(chǎn)品**改進(jìn)法、包裝指令，WEEE - 電子電氣設(shè)備廢棄物、CA 65號等）的影響。這些指令已經(jīng)在不同的地區(qū)被制定，以提高產(chǎn)品的**性，并通過控制產(chǎn)品的“上游”來源和處理技術(shù)，減少環(huán)境污染物。這一立法影響到全球各個行業(yè)，包括原材料供應(yīng)商，組件和成品制造商和零售商。

通過X射線熒光(XRF)進(jìn)行合規(guī)性篩查，提供了被測組件元素化學(xué)成分的信息。因其速度快且無損，因此被廣泛使用，且收到標(biāo)準(zhǔn)檢測程序（如IEC 62321方法）的支持。

為什么選擇X-MET8000 Expert CG？

★完全便攜：小巧輕便，X-MET可被帶到需要分析的地方（例如進(jìn)貨檢驗(yàn)、倉庫、從工廠到工廠）

★快速而準(zhǔn)確地篩選各種材料（例如聚合物、合金）

★快速：當(dāng)場做出接受/拒*決

★易于使用：幾乎不需要用戶培訓(xùn)

★可選的小光斑準(zhǔn)直器（直徑3毫米）：通過將其與周圍材料隔離，精   確檢測小特征

★集成攝像頭：清楚看到您檢測的下面

★強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理：將結(jié)果存儲在分析儀上、將報(bào)告導(dǎo)出到U盤，或使用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)實(shí)時(shí)管理您的數(shù)據(jù)

▲手持式XRF光譜儀應(yīng)用于鍍層測厚

金屬涂層在許多行業(yè)中被使用，并被用于裝飾用途（如鏡面拋光、金色），以增強(qiáng)耐腐蝕性、提高可焊性、增加硬度、減少摩擦和磨損等等。

為**所覆涂層的厚度足以賦予零件和部件其所需的性能，且不會因涂層過厚而浪費(fèi)材料，電鍍公司需控制其工藝，并檢查*終產(chǎn)品是否符合規(guī)格。

基于X射線熒光(XRF)的涂層厚度測量是一種被廣泛接受和被業(yè)界認(rèn)可的分析技術(shù)。手持式XRF提供**的多功能性：您可以將分析儀帶到需要測試的地方。

為什么選擇X-MET8000？

★操作簡單：X-MET擁有“對準(zhǔn)—拍攝”的直觀用戶界面；幾乎不需要用戶培訓(xùn)

快速、非破壞性的分析：快速制定流程變更決定；被檢零件無刮痕或其他損壞；不浪費(fèi)

★多功能：分析涂層和未涂層零件以及電鍍液

★檢測笨重和大型項(xiàng)目的**之選

★堅(jiān)固耐用：IP54評級（密封防塵和防濺水），通過MIL-STD 810G檢測，堅(jiān)固耐用，X-MET為在惡劣環(huán)境使用而設(shè)計(jì)

▲手持式XRF光譜儀應(yīng)用于考古

手持式X射線熒光(HHXRF)經(jīng)常被用于藝術(shù)和歷史文物的鑒定、保存和修復(fù)過程。這是一種非侵入式的技術(shù)，可以在幾秒鐘內(nèi)識別油墨、顏料、陶瓷、青銅和其他合金，無需采樣或準(zhǔn)備測試品。分析可以顯示物品或部件的日期和/或出處，例如檢測釉中的特定顏料，識別僅在特定時(shí)期被使用的瓷器 。手持式XRF分析還可以通過檢查物體表面的元素組成，確定物體的哪一部分被修補(bǔ)，并且可輕松發(fā)現(xiàn)差異。

為什么選擇X-MET8000？

★**的性能：快速分析和低檢測限制，可靠識別微量元素

★多用途：對各種材料進(jìn)行定性和定量分析；使用X-MET的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)，或根據(jù)您的具體要求進(jìn)行創(chuàng)建

★集成攝像頭：將X-MET**定位在要檢測的物體上

★可選的小光斑準(zhǔn)直器（直徑3毫米）：將小的特征與周圍的材料分隔開，以獲得針點(diǎn)分析精度

★多種輻射**配件

▲手持式XRF光譜儀應(yīng)用于貴金屬和珠寶檢測

手持式X射線熒光（HHXRF）分析儀通常被用于檢測珠寶和其他貴金屬物品（如硬幣、銀器），以檢驗(yàn)真?zhèn)尾⒋_定其價(jià)值。貴金屬（如金(Au)和鉑(Pt)）的高價(jià)格意味著，成分的微小差別會產(chǎn)生巨大的產(chǎn)品價(jià)值差異。 HHXRF具有許多優(yōu)點(diǎn)：快速、無損（對被測物品無劃痕或損壞、不會造成材料損失），并可為大型和小型貴金屬物品提供多元素分析。

為什么選擇X-MET8000？

★快速準(zhǔn)確：高分析吞吐量，使生產(chǎn)力和盈利能力*大化

多用途：分析有價(jià)金屬、雜質(zhì)和有毒元素（如鉛和鎘），以確定可能有害的物品

★完全便攜：X-MET8000小巧輕便（含電池重量5工具），可隨時(shí)隨地被運(yùn)輸和使用。燈架可被放入分析儀的運(yùn)輸箱內(nèi)

★易于使用：直觀的用戶界面；幾乎不需要用戶培訓(xùn)

★可選的集成攝像頭和小光點(diǎn)準(zhǔn)直器：了解您正在檢測的內(nèi)容

日立手持式XRF光譜儀|X-MET系列手持X射線熒光分析儀型號比較

X-MET8000 Smart

X射線管：40kV

濾光片：單一

檢測器：大面積 SDD

*高樣本溫度：400oC

符合 IP54 等級

Thick Kapton®窗口：保護(hù)以預(yù)防探測器的窗戶損壞

校準(zhǔn)：基本參數(shù)法(FP)

內(nèi)置攝像頭 （可選）

X-MET8000 Optimum

X射線管：40kV or 50kV

濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器

檢測器：大面積 SDD

*高樣本溫度：100oC 或通過 HERO? 耐熱窗戶400oC（可選)

符合 IP54 等級

可選窗口防護(hù)罩：預(yù)防檢測器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)

校準(zhǔn)：基本參數(shù)法 （包括輕元素分析）

內(nèi)置攝像頭（可選）

小光班準(zhǔn)直器（可選）

針對所有元素（從鎂到鈾）進(jìn)行優(yōu)先分析的六位濾光片

X-MET8000 Expert

X射線管：50kV

濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器

檢測器：大面積 SDD

*高樣本溫度：100oC 或通過 HERO? 耐熱窗戶400oC（可選)

符合 IP54 等級

可選窗口防護(hù)罩：預(yù)防檢測器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)

校準(zhǔn)方法：自動跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法（可進(jìn)行追溯）

內(nèi)置攝像頭

小光班準(zhǔn)直器 （可選)

針對所有元素，從鎂到鈾，的優(yōu)先分析的六位濾光片